熱流法導熱系數測定儀

  型號：TC-DRL-Ⅱ

產品編號：TC-001369

主要測試薄的熱導體、固體電緣材料、導熱樹脂、硅膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的導熱系數，加圍框可檢測膠狀材料、粉狀材料。儀器參考標準：MIL-I-49456A（緣片材、導熱樹脂、熱導玻纖增強）；GB 5598-85（氧化鈹瓷導熱系數測定方法）；ASTM D5470-2006（薄的熱導性固體電緣材料傳熱性能的測試標準）等。廣泛應用在大中院校，科研單位，質檢部門和生產廠的材料分析檢測。

 熱流法導熱系數測定儀

XK-DRL-Ⅱ導熱系數測試儀（熱流法） 主要參數
1、試樣大小：Φ30mm ；
2、試樣厚度：0.02-10mm ；
3、溫度范圍：40-150℃，或室溫-300℃；
4、帶有真空裝置，保證測試環(huán)境不受外界干擾，真空度：-0.09MPa ；
5、連接上位機實現計算機自動測試，并實現數據打印輸出。
6、電源：220V/50HZ ；
7、測試范圍：0.015～45W/m•k ；
8、測試精度：3％；

導熱系數測試儀 型號：DRE-2C

DRE-2C導熱系數測定儀(瞬態(tài)平面熱源法) 
DRE-2C導熱系數測試儀采用瞬態(tài)平面熱源法，主要測量固體、粉末、涂層、薄膜、各向異性材料等的導熱系數。本儀器基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術，用Hot Disk作為探頭的導熱系數測定儀。 
DRE-2C導熱系數測試儀Hot Disk法的優(yōu)點有： 
(1)直接測量熱傳播，可以節(jié)約大量的時間； 
(2)不會和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響； 
(3)無須特別的樣品制備，只需相對平整的樣品表面。 
 DRE-2C導熱系數測試儀主要技術指標： 
1、導熱系數測定范圍：0.01—100W/mk 
2、測量時間：1-600秒 
3、準確度：優(yōu)于5％ 
4、溫度范圍：標準測量：室溫，(可根據客戶要求選配各種溫度段的測試溫度，費用另計：如-20℃～120℃) 
5、樣本尺寸：大于15mm高，大于直徑45mm相對平整的樣品表面

高溫材料導熱系數測試儀 型號： DRX-Ⅱ-RW  
一：儀器概述  
該熱物性測試儀采用良好的瞬變熱流法及縱向熱流技術，具有方便、快捷、精確的特點，可用來測量各種不同類型材料的熱導率、熱擴散率以及熱熔，適用的熱導系數范圍0.015-100W/MK之間，適用樣品類型：固體、粉末材料。參照標準GB5598-85,GB3399-82,GB11205-89. 適應ASTM D5470，但它也使用熱結構-函數分析以使結果更精確，符合MIL-I-49456A，緣片材，導熱樹脂，熱導玻纖等。  
    該儀器可自動測試薄的導熱材料的熱阻抗與熱導率參數。這些材料一般在電子封裝業(yè)普遍使用，也可以測試一些軟的或硬的、半液體或粘性的材料。熱導率是描述材料熱傳導性能的重要參數。儀器通?？梢赃m應測定熱導率范圍從高到中等的材料，接觸壓力范圍在10-550psi（70-3800Kpa）手動加壓或液壓，樣品溫度范圍為常溫，也可到20—1200℃，后者需要定制裝置。 測試時，樣品被箝緊在兩個平行的導熱面之間（或者選擇懸浮式非平行面），一面是加熱面，一面是冷卻面，所有數據通過計算機測試軟件采集并分析輸出結果。  
二：主要技術參數  
1. 樣品尺寸：固體樣品要求在直徑15-50mm(定做60—100mm),厚度在10—15mm  
2. 導熱系數范圍：0.5-100w/MK，精度≤±3%,重復性≤±1%  
3．熱擴散率測量精度：5%  
4.比熱測量精度：7%（需配比熱測試模塊）  
5. 溫度范圍：常溫-1200攝氏度(精度±1攝氏度)   
6. 接觸壓力范圍：50-650kPa （手動）  
7. 接觸壓力精度：±3% （帶顯示裝置時）  
8. 樣品有效測量厚度：0-9mm   
9. 外接循環(huán)冷卻液   
10.配有完整的測試系統及軟件平臺。  
11.操作采用全自動熱分析測試軟件，快速準確對樣品進行試驗過程參數分析和報 告輸出。  
12．圖片僅參考，以出廠為準。  
   
儀器配置  
1、測試主機               一臺  
2、計算機（不帶打印機）     一套  
3、測試軟件               一套（光盤）  
4、說明書                 一份  
5、合格證                 一份  
6.恒溫水槽                一臺  
7.高溫爐                  一臺

產品名稱：數字式四探針電阻率測試儀 產品型號：SX1944

數字式四探針電阻率測試儀型號：SX1944

產品說明   
 　　 四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置。廣泛用于半導體廠家、太陽能行業(yè)，還能滿足科研單位的精密研究。　   
產品特點   
 　　四探針測試儀是根據單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M 標準設計的半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）測試儀器。    
　　儀器以大規(guī)模集成電路為核心部件，采用旋扭式開關控制，及各種工作狀態(tài)LED指示。應用微計算機技術，使得測量讀數更加直觀、快速。整套儀器體積小、功耗低、測量精度高、測試速度快、穩(wěn)定性好、易操作。   
　型號SX1944 
測量范圍電阻率：10-4～105Ω-cm 方塊電阻：10-3～106Ω/□ 電阻：10-4～105Ω 
可測半導體材料尺寸直徑：Φ15～100mm 
測量方位軸向、徑向均可 
數字電壓表⑴量程： 200mV 
⑵誤差：± 0.1% 讀數± 2 字 
⑶大分辨力：10μV 
顯示 : 4位半數字顯示。小數點自動顯示 

數控恒流源⑴電流輸出：直流電流 0 ～ 100mA 連續(xù)可調，由交流電源供電。 
⑵量程： 1 μ A ， 10 μ A ， 100μA ， 1mA ， 10mA ， 100mA 
⑶誤差：± 0.5% 讀數± 2 字 

四探針測試探頭⑴探 針 間 距： 1mm 
⑵探針機械游移率： ± 1.0% 
⑶探 針： 碳化鎢，Φ 0.5mm 
⑷壓 力： 0 ～ 2kg 可調 , 大壓力約 2kg 

電源輸入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗： <20W 
外形尺寸主機 260mm （長）× 210 mm （寬）× 125mm （高） 
備注USB 接口，配軟件

產品名稱：便攜式濁度計 濁度計 產品型號：WGZ-1B

便攜式濁度計 濁度計 型號 WGZ-1B

用途概述 Summary of functions

用于測量懸浮于水或透明液體中不溶性顆粒物質所產生的光的散射程度，并能定量表征這些懸浮顆粒物質的含量?？梢詮V泛應用于發(fā)電廠、純凈水廠、自來水廠、生活污水處理廠、飲料廠、環(huán)保部門、工業(yè)用水、制酒行業(yè)及制藥行業(yè)、防疫部門、醫(yī)院等部門的濁度測量。

產品特點 Product Characteristics

?流線形外型設計，簡潔的操作和較高的性價比

?大屏幕LCD數字清晰顯示，采用低漂移、高精度電路系統

?色度補償，有效避免試樣顏色引起的干擾，能正確反映濁度的概念

?高強度長壽命光源，無更換之憂慮，30秒預熱時間即可正常工作